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专利名称：一种免焊边缘安装连接器及其测试系统

专利类型：发明专利

专利申请号：CN202411265958.3

专利申请（专利权）人：嘉兴翼波电子有限公司
权利人地址：浙江省嘉兴市秀洲区王江泾镇闻川路1068号

专利发明（设计）人：王先鹏,张恒,王世航,汪艳军,周赤伟,俞东伟,马云勇

专利摘要：本发明涉及连接装置技术领域，尤其涉及一种免焊边缘安装连接器及其测试系统，包括：温度调节器，用于改变寿命测试台与落尘实验台内的温度；接触电阻测试器，用于检测连接器因温度变化造成尺寸变动后是否正常通过电流；寿命测试台，用于测试连接器的数据传输速率和在工作温度下对应的无暇时长；落尘实验台，用于检测连接器在落尘情况下连接器的数据传输速率，通过对比数据传输速率与预设传输速率并确定检测时长；数据处理器，用于接收寿命测试台与落尘实验台的数据，并重新确定无暇时长。从而克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。

主权利要求：
1.一种免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，包括：
温度调节器，用于改变寿命测试台与落尘实验台内的温度；
接触电阻测试器，用于检测连接器因温度变化造成尺寸变动后是否正常通过电流；
寿命测试台，与所述温度调节器和所述接触电阻测试器连接，用于测试连接器的数据传输速率和在工作温度下对应的无暇时长；
落尘实验台，与所述温度调节器、所述接触电阻测试器和所述寿命测试台连接，用于检测连接器在落尘情况下连接器的数据传输速率，通过对比数据传输速率与预设传输速率并确定检测时长；
数据处理器，与所述寿命测试台和所述落尘实验台连接，用于接收寿命测试台与落尘实验台的数据，对比检测时长与无暇时长并重新确定无暇时长；
其中，所述工作温度为所述连接器满足预设传输速率工作时的温度；
所述无暇时长为连接器从开始使用到数据传输速率第一次低于预设传输速率的时间段；
所述寿命测试台确定测试温度范围，并根据所述测试温度范围设置温度点，通过所述温度调节器调节寿命测试台内温度达到温度点，将连接器在设定的各温度点下与PCB板安装，并通过所述接触电阻测试器检测连接器内电流情况，通过寿命测试台检测数据传输速率；
所述温度点为在所述测试温度范围内线性分布各端点；
所述落尘实验台内确定有预设传输速率，同时设有计时器，连接器与PCB板连接同时所述计时器开始计时，检测连接器与PCB板连接后的实时传输速率，对比实时传输速率与预设传输速率，若实时传输速率不低于预设传输速率，所述落尘实验台继续检测且所述计时器持续计时；
若实时传输速率低于预设传输速率，所述计时器停止计时，并确定计时器从开始计时到停止计时的时长为检测时长；
所述数据处理器对比所述检测时长与所述无暇时长，
若检测时长未超过无暇时长，将所述检测时长确定为新的无暇时长；
若检测时长超过无暇时长，确定原无暇时长为所述连接器的无暇时长。
2.根据权利要求1所述的免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，所述接触电阻测试器内预设有标准电流量，在任一温度点时，连接器与PCB板安装完成后测得实际电流量，对比所述温度点的实际电流量与标准电流量，若所述温度点的实际电流量低于标准电流量，所述温度点的连接器与PCB板安装未达预设标准，所述寿命测试台重新确定测试温度范围；
若所述温度点的实际电流量不低于标准电流量，该温度点的连接器与PCB板安装达到预设标准，并进行数据传输速率测试；
其中，预设标准为连接器的数据传输速率不小于预设传输速率。
3.根据权利要求2所述的免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，所述寿命测试台接收到接触电阻测试达到预设标准的信号后，检测连接器数据传输速率，传输检测器中存在预设传输速率，对比数据传输速率与预设传输速率，若数据传输速率小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装未达到预设标准，所述寿命测试台重新确定测试温度范围；
若数据传输速率不小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装达到预设标准，进行下一个温度点测试。
4.根据权利要求3所述的免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，各温度点均测试完成后，所述寿命测试台对测试数据进行处理，若各温度点均达到预设标准，所述测试温度范围下连接器与PCB板安装达预设标准，将连接器放入寿命测试台确定无暇时长；
若任一温度点未达到预设标准，所述测试温度范围下连接器与PCB板未达预设标准，所述温度调节器重新确定测试温度范围并进行接触电阻测试。
5.根据权利要求4所述的免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，所述寿命测试台内的温度在所述测试温度范围内进行周期变化，寿命测试台记录下连接器与PCB板从连接开始后到第一次低于预设传输速率的时长，确定此时长为无暇时长。
6.根据权利要求5所述的免焊边缘安装连接器的测试系统，其特征在于，所述落尘实验台监测连接器在工作后因尘土附着导致数据传输速率下降情况，所述落尘实验台底部设有尘土采集室，所述尘土采集室内设有鼓风机，所述鼓风机通过预设转速向落尘实验台内吹动气流，气流带动尘土送入落尘实验台中。 说明书 : 一种免焊边缘安装连接器及其测试系统技术领域[0001] 本发明涉及连接装置技术领域，尤其涉及一种免焊边缘安装连接器及其测试系统。背景技术[0002] 随着电子技术的飞速发展，印刷电路板（PCB）的应用越来越广泛，对连接器的要求也越来越高。传统焊接方式在某些应用场景下存在局限性，如安装复杂、成本高、不易更换等。因此，免焊边缘安装连接器应运而生，以满足快速、便捷、稳固的电气连接需求。[0003] 免焊边缘安装连接器通常包括法兰连接器、螺钉、基座、绝缘子、插针等组件。这些组件通过精密的设计和制造，实现了无需焊接即可直接安装在PCB边缘的功能。其结构特点包括快速安装、易于更换、稳定性好等，使得连接器在多种应用场景下都能表现出色。[0004] 中国申请公布号：CN117728138A公开了一种同轴连接器与平面微带的免焊连接机构，所述免焊连接机构包括同轴连接器、金属壳体、低损耗介质压块和平面微带板；所述同轴连接器的针型内导体从金属壳体的圆柱形空腔的伸出并于所述平面微带板的信号线接触；使用低损耗介质压块压接所述针型内导体和信号线，从而实现免焊接连接。通过对低损耗介质压块厚度及空腔的设计，对于同轴连接器和平面微带线过渡处电磁场从TEM波向准TEM波的变化具有补偿左右，可以改善电场变化带来的阻抗不连续性，使其在宽频带内具有优异的性能。[0005] 中国申请公布号：CN116565652A公开了一种板端免焊射频连接器；包括外壳、第一绝缘子、第二绝缘子和内导体组件，外壳内设有贯穿其前后端面的安装孔，内导体组件处于安装孔内，内导体组件包括与头部插孔件和尾部插针件，头部插孔件与尾部插针件之间固定连接，尾部插针件伸出外壳的安装孔后侧且与外部的PCB板端子接触，头部插孔件侧壁与安装孔之间设有第一绝缘子，尾部插针件侧壁与安装孔之间设有第二绝缘子。该板端免焊射频连接器使工作频率达到40GHz、电压驻波比＜1.3、免焊接、易拆卸、适用多种厚度PCB端口射频同轴连接器，对未来装备的发展以及通信行业发展有着重要意义。[0006] 但是，上述方法存在以下问题：未有现有技术用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。发明内容[0007] 为此，本发明提供一种免焊边缘安装连接器及其测试系统，用以克服现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0008] 一方面，本发明提供一种免焊边缘安装连接器包括中心导体、绝缘结构、固定结构以及若干连接螺钉，其中：[0009] 所述中心导体，用于信号传输；[0010] 所述绝缘结构，包裹在所述中心导体周围，用于隔离所述中心导体与所述固定结构；[0011] 所述固定结构，通过所述若干连接螺钉与绝缘结构和中心导体连接，用于为连接器提供支撑与保护。[0012] 另一方面，本发明提供一种免焊边缘安装连接器的测试系统，包括：[0013] 温度调节器，用于改变寿命测试台与落尘实验台内的温度；[0014] 接触电阻测试器，用于检测连接器因温度变化造成尺寸变动后是否正常通过电流；[0015] 寿命测试台，与所述温度调节器和所述接触电阻测试器连接，用于测试连接器的数据传输速率和在工作温度下对应的无暇时长；[0016] 落尘实验台，与所述温度调节器、所述接触电阻测试器和所述寿命测试台连接，用于检测连接器在落尘情况下连接器的数据传输速率，通过对比数据传输速率与预设传输速率并确定检测时长；[0017] 数据处理器，与所述寿命测试台和所述落尘实验台连接，用于接收寿命测试台与落尘实验台的数据，对比检测时长与无暇时长并重新确定无暇时长；[0018] 其中，所述工作温度为所述连接器满足预设传输速率工作时的温度；[0019] 所述无暇时长为连接器从开始使用到数据传输速率第一次低于预设传输速率的时间段。[0020] 进一步地，所述寿命测试台确定测试温度范围，并根据所述测试温度范围设置温度点，通过所述温度调节器调节寿命测试台内温度达到温度点，将连接器在设定的各温度点下与PCB板安装，并通过所述接触电阻测试器检测连接器内电流情况，通过寿命测试台检测数据传输速率；[0021] 其中，所述温度点为在所述测试温度范围内线性分布各端点。[0022] 进一步地，所述接触电阻测试器内预设有标准电流量，在任一温度点时，连接器与PCB板安装完成后测得实际电流量，对比所述温度点的实际电流量与标准电流量，[0023] 若所述温度点的实际电流量低于标准电流量，所述温度点的连接器与PCB板安装未达预设标准，所述寿命测试台重新确定测试温度范围；[0024] 若所述温度点的实际电流量不低于标准电流量，该温度点的连接器与PCB板安装达到预设标准，并进行数据传输速率测试；[0025] 其中，预设标准为连接器的数据传输速率不小于预设传输速率。[0026] 进一步地，所述传输检测器检测接触电阻测试达到预设标准的连接器数据传输速率，传输检测器中存在预设传输速率，对比数据传输速率与预设传输速率，[0027] 若数据传输速率小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装未达到预设标准，所述寿命测试台重新确定测试温度范围；[0028] 若数据传输速率不小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装达到预设标准，进行下一个温度点测试。[0029] 进一步地，各温度点均测试完成后，所述寿命测试台对测试数据进行处理，[0030] 若各温度点均达到预设标准，所述测试温度范围下连接器与PCB板安装达预设标准，将连接器放入寿命测试台确定无暇时长；[0031] 若任一温度点未达到预设标准，所述测试温度范围下连接器与PCB板未达预设标准，所述温度调节器重新确定测试温度范围并进行接触电阻测试。[0032] 进一步地，所述寿命测试台内的温度在所述测试温度范围内进行周期变化，寿命测试台记录下连接器与PCB板从连接开始后到第一次低于预设传输速率的时长，确定此时长为无暇时长。[0033] 进一步地，所述落尘实验台监测连接器在工作后因尘土附着导致数据传输速率下降情况。所述落尘实验台底部设有尘土采集室，所述尘土采集室内设有鼓风机，所述鼓风机通过预设转速向落尘实验台内吹动气流，气流带动尘土送入落尘实验台中。[0034] 进一步地，所述落尘实验台内确定有预设传输速率，同时设有计时器，连接器与PCB板连接同时所述计时器开始计时，检测连接器与PCB板连接后的实时传输速率，对比实时传输速率与预设传输速率，[0035] 若实时传输速率不低于预设传输速率，所述落尘实验台继续检测且所述计时器持续计时；[0036] 若实时传输速率低于预设传输速率，所述计时器停止计时，并确定计时器从开始计时到停止计时的时长为检测时长。[0037] 进一步地，所述数据处理器对比所述检测时长与所述无暇时长，[0038] 若检测时长未超过无暇时长，将所述检测时长确定为新的无暇时长；[0039] 若检测时长超过无暇时长，确定所述连接器的无暇时长。[0040] 与现有技术相比，本发明的有益效果在于，通过寿命测试台检测连接器适用的温度范围并确定无暇时长，通过落尘实验室模拟现实连接器使用后落尘情况重新确定无暇时长，确定了连接器使用环境及在此环境下无故障时长，提高连接器使用的稳定性，从而克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0041] 进一步地，通过接触电阻测试器检测连接器内电流情况确定此连接器最适宜的温度范围，减少使用时因温度问题造成连接器无法使用，提高了连接器的使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0042] 进一步地，通过寿命测试台检测连接器在此温度下的数据传输速率，并确定符合传输要求的温度范围，为连接器使用提供了最适宜的参数，减少了连接器的损耗，提高连接器的使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0043] 进一步地，通过落尘实验台模拟实际连接器工作的尘土附着情况测量无故障时长，提高无故障时长的测量精确度，为连接器的使用提高了稳定性，可为连接器提前布局，提高了使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0044] 进一步地，通过构建免焊边缘安装连接器的结构，使其结构紧凑，性能可靠，安装轻便，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。附图说明[0045] 图1为本发明免焊边缘连接器测试系统的结构示意图；[0046] 图2为本发明实施例免焊边缘连接器测试系统的流程图；[0047] 图3为本发明实施例免焊边缘连接器结构爆炸图；[0048] 图4为本发明实施例免焊边缘连接器结构装配图；[0049] 其中，第一中心针1，第一绝缘体2，第一主体3，法兰4，第一螺钉5，第二中心针6，第二绝缘体7，第二螺钉8，第二主体9，第三主体10，第四主体11。具体实施方式[0050] 为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。[0051] 下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。[0052] 需要说明的是，在本发明的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。[0053] 此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。[0054] 请参阅图1所示，其为本发明免焊边缘连接器测试系统的结构示意图，包括：[0055] 温度调节器，用于改变寿命测试台与落尘实验台内的温度；[0056] 接触电阻测试器，用于检测连接器因温度变化造成尺寸变动后是否正常通过电流；[0057] 寿命测试台，与温度调节器和接触电阻测试器连接，用于测试连接器的数据传输速率和在工作温度下对应的无暇时长；[0058] 落尘实验台，与温度调节器、接触电阻测试器和寿命测试台连接，用于检测连接器在落尘情况下连接器的数据传输速率，通过对比数据传输速率与预设传输速率并确定检测时长；[0059] 数据处理器，与寿命测试台和落尘实验台连接，用于接收寿命测试台与落尘实验台的数据，对比检测时长与无暇时长并重新确定无暇时长；[0060] 其中，工作温度为连接器满足预设传输速率工作时的温度；[0061] 无暇时长为连接器从开始使用到数据传输速率第一次低于预设传输速率的时间段。[0062] 在实施中，寿命测试台确定连接器的温度范围?40℃至40℃，并在温度范围内以每5℃的间隔选取温度点，首先测量?40℃的温度点，温度调节器控制寿命测试台将温度控制在?40℃时，将连接器与PCB板放置在测试台并进行插拔实验，通过接触电阻测试器测量连接器与PCB板的电流量，若电流量超过预设的电流量则在?40℃时连接器与PCB板的连接正常，若未超过预设的电流量，则重新调节温度范围至?35℃至40℃，以此类推。以检测完电流量在?40℃时达标为例，寿命检测台测量连接器数据传输速率，若传输速率低于预设传输速率时，重新调节温度范围至?35℃至40℃，若不低于预设传输速率，则可进行40℃的温度点测试，以此方式从温度范围两端交叉选取温度点测量，直至温度范围内所有温度点全部测量完毕后，判定所有相邻两个温度点电流量与传输速率均达标的温度段为连接器可正常工作的温度段，即工作温度。将此数据输送至数据处理器。[0063] 确定工作温度后，使用寿命测试台测量连接器与PCB板从连接开始后到第一次低于预设传输速率的时长，确定此时长为无暇时长，在测量时，温度将在工作温度内以最低温度至最高温度，最高温度至最低温度的方式周期变化，变化周期通过实际工作环境下的温度变化速率确定。将此数据输送至数据处理器。[0064] 将通过寿命测试台确定好无暇时长的连接器送入落尘实验台，将连接器与PCB板连接好，并通过落尘实验台模拟工厂的尘土附着情况，通过鼓风机将尘土吹扬并使落尘实验台内尘土种类与含量贴近于工厂。实时检测数据传输速率，并通过计时得出第一次传输速率低于预设速率的时间，即为检测时长。将此数据输送至数据处理器。通过数据处理器对比重新确定无暇时长。[0065] 可以理解的是，落尘实验台内的尘土种类与含量通过实地现场测量工厂的实际尘土种类与含量，并通过加权后得到连接器长时间暴露于空气中后的平均值，[0066] 通过寿命测试台检测连接器适用的温度范围并确定无暇时长，通过落尘实验室模拟现实连接器使用后落尘情况重新确定无暇时长，确定了连接器使用环境及在此环境下无故障时长，提高连接器使用的稳定性，从而克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0067] 请结合图1参阅图2所示，其为本发明实施例免焊边缘连接器测试系统的流程图，包括：[0068] 步骤S1：寿命测试台确定温度范围及温度点，温度调节器调节温度至温度点；[0069] 步骤S2：接触电阻测试器测试电流量，若电流量达标则进行数据传输速率测试，若不达标则重新确定温度范围并进行接触电阻测试；[0070] 步骤S3：寿命测试台测试数据传输速率，若达到预设速率则进行下一个温度点测试重复步骤S2?S3直至所有温度点全部测试成功，若未达到预设速率，则重新确定温度范围并进行接触电阻测试；[0071] 步骤S4：所有温度点全部达到预设标准后，寿命测试台测试此温度范围周期变化下的无暇时长；[0072] 步骤S5：落尘实验台模拟尘埃附着情况测试第一次出现传输速率低于预设速率的检测时长；[0073] 步骤S6：判断检测时长与无暇时长大。⒅匦氯范ㄎ尴臼背。[0074] 具体而言，寿命测试台确定测试温度范围，并根据测试温度范围设置温度点，通过温度调节器调节寿命测试台内温度达到温度点，将连接器在设定的各温度点下与PCB板安装，并通过接触电阻测试器检测连接器内电流情况，通过寿命测试台检测数据传输速率；[0075] 其中，温度点为在测试温度范围内线性分布各端点。[0076] 请参阅表1所示，其为本发明实施例免焊边缘安装连接器温度范围检测表，[0077] 表1免焊边缘安装连接器温度范围检测表[0078][0079] 具体而言，接触电阻测试器内预设有标准电流量，在任一温度点时，连接器与PCB板安装完成后测得实际电流量，对比温度点的实际电流量与标准电流量，[0080] 若温度点的实际电流量低于标准电流量，该温度点的连接器与PCB板安装未达预设标准，寿命测试台重新确定测试温度范围；[0081] 若温度点的实际电流量不低于标准电流量，该温度点的连接器与PCB板安装达到预设标准，并进行数据传输速率测试；[0082] 其中，预设标准为连接器的数据传输速率不小于预设传输速率。[0083] 在实施中，若接触电阻测试器内存在预设的标准电流量10A，经检测在40℃的温度点上，检测到的连接器与PCB板的电流量为8.6A，则在40℃的温度点上，连接器与PCB板安装未达到预设标准，寿命测试台重新确定温度范围?40℃至35℃。并重新测量35℃时的电流量。[0084] 若接触电阻测试器内存在预设的标准电流量10A，经检测在35℃的温度点上，检测到的连接器与PCB板的电流量为10.7A，则在35℃的温度点上，连接器与PCB板安装达到预设标准，并进行传输速率测量。[0085] 通过接触电阻测试器检测连接器内电流情况确定此连接器最适宜的温度范围，减少使用时因温度问题造成连接器无法使用，提高了连接器的使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0086] 具体而言，寿命测试台接收到接触电阻测试达到预设标准的信号后，检测连接器数据传输速率，传输检测器中存在预设传输速率，对比数据传输速率与预设传输速率，[0087] 若数据传输速率小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装未达到预设标准，寿命测试台重新确定测试温度范围；[0088] 若数据传输速率不小于预设传输速率，此温度点下连接器与PCB板安装达到预设标准，进行下一个温度点测试。[0089] 在实施中，若寿命测试台存在预设传输速率1500km/s，经检测在35℃的温度点上，检测到的连接器与PCB板的数据传输速率为1483km/s，则在35℃的温度点上，连接器与PCB板安装未达到预设标准，寿命测试台重新确定温度范围?40℃至30℃。并重新测量30℃时的电流量与传输速率。[0090] 若寿命测试台存在预设传输速率1500km/s，经检测在30℃的温度点上，检测到的连接器与PCB板的数据传输速率为1516km/s，则在30℃的温度点上，连接器与PCB板安装达到预设标准，下一步测试?35℃温度点的电流量与句传输数据传输速率。[0091] 本实验数据传输速率全部采取四舍五入法确定的整数。[0092] 请参阅表2所示，其为本发明实施例免焊边缘安装连接器无暇时长测试表，[0093] 表2免焊边缘安装连接器无暇时长测试表[0094][0095] 具体而言，各温度点均测试完成后，寿命测试台对测试数据进行处理，[0096] 若各温度点均达到预设标准，测试温度范围下连接器与PCB板安装达预设标准，将连接器放入寿命测试台确定无暇时长；[0097] 若任一温度点未达到预设标准，测试温度范围下连接器与PCB板未达预设标准，温度调节器重新确定测试温度范围并进行接触电阻测试。[0098] 在实施中，若确定温度范围为?10℃至10℃，此时，?10℃、?5℃、0℃、5℃、10℃的温度点均达到了预设标准，则确定此温度范围下，连接器与PCB板的安装达到预设标注，可以进行无暇时长测试。[0099] 若确定温度范围为?10℃至10℃，此时，?10℃、?5℃、5℃、10℃的温度点均达到了预设标准，但0℃的温度点未达到预设标准，则确定?10℃至?5℃与5℃至10℃温度范围下，连接器与PCB板的安装达到预设标注，可以进行无暇时长测试。[0100] 具体而言，寿命测试台内的温度在测试温度范围内进行周期变化，寿命测试台记录下连接器与PCB板从连接开始后到第一次低于预设传输速率的时长，确定此时长为无暇时长。[0101] 在实施中，若检测后确定温度范围为?20℃至40℃，在寿命测试台内，将温度调节至?20℃后，使温度以每小时3℃的速度增加，直至达到40℃，再以每小时3℃的速度减少至?20℃，周而复始，在此期间将连接器与PCB板安装好后开始检测传输速率，当传输速率第一次低于预设速率时停止，记录时长，此时长为无暇时长。[0102] 通过寿命测试台检测连接器在此温度下的数据传输速率，并确定符合传输要求的温度范围，为连接器使用提供了最适宜的参数，减少了连接器的损耗，提高连接器的使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0103] 具体而言，落尘实验台监测连接器在工作后因尘土附着导致数据传输速率下降情况。落尘实验台底部设有尘土采集室，尘土采集室内设有鼓风机，鼓风机通过预设转速向落尘实验台内吹动气流，气流带动尘土送入落尘实验台中。[0104] 具体而言，落尘实验台内确定有预设传输速率，同时设有计时器，连接器与PCB板连接同时计时器开始计时，检测连接器与PCB板连接后的实时传输速率，对比实时传输速率与预设传输速率，[0105] 若实时传输速率不低于预设传输速率，落尘实验台继续检测且计时器持续计时；[0106] 若实时传输速率低于预设传输速率，计时器停止计时，并确定计时器从开始计时到停止计时的时长为检测时长。[0107] 在实施中，若预设传输速率为1500km/s，落尘实验台开始落尘模拟，确定的温度范围为?20℃至40℃周期变化，当检测到的传输速率为1633km/s时，落尘实验台继续实验，当检测到传输速率为1499km/s，落尘实验台停止工作，计时器计算从开始到结束的时长，即为检测时长。[0108] 具体而言，数据处理器对比检测时长与无暇时长，[0109] 若检测时长未超过无暇时长，将检测时长确定为新的无暇时长；[0110] 若检测时长超过无暇时长，确定连接器的无暇时长。[0111] 在实施中，若检测时长为5673h，无暇时长为5432h，则确定连接器的无暇时长为5432h，若检测时长为5379h，无暇时长为5816h，则确定连接器的无暇时长为5379h。[0112] 本实验所有时长全部采用进一法估算的整数。[0113] 通过落尘实验台模拟实际连接器工作的尘土附着情况测量无故障时长，提高无故障时长的测量精确度，为连接器的使用提高了稳定性，可为连接器提前布局，提高了使用效率，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0114] 请参阅图3所示，其为本发明实施例免焊边缘连接器结构爆炸图，并根据图3参阅图4所示，其为本发明实施例免焊边缘连接器结构装配图，包括中心导体、绝缘结构、固定结构以及若干连接螺钉，其中：[0115] 中心导体，用于信号传输；[0116] 绝缘结构，包裹在中心导体周围，用于隔离中心导体与固定结构；[0117] 固定结构，通过若干连接螺钉与绝缘结构和中心导体连接，用于为连接器提供支撑与保护。[0118] 中心导体包括第一中心针1与第二中心针6，第一中心针1与第二中心针6接触式连接，绝缘结构包括第一绝缘体2与第二绝缘体7，第一绝缘体2包裹在第一中心针1侧壁，第二绝缘体7包裹于第二中心针6侧壁。固定结构包括第一主体3，法兰4，第二主体9，第三主体10，第四主体11，此外连接螺钉包括第一螺钉5与第二螺钉8，第一中心针1与第一绝缘体2套设在第一主体3内侧，第一主体3套设在法兰4内壁，法兰4与第二主体9通过四枚第一螺钉连接，第二中心针6与第二绝缘体7套设在第二主体9内壁，第二主体9、第三主体10与第四主体11通过第二螺钉8连接。[0119] 通过构建免焊边缘安装连接器的结构，使其结构紧凑，性能可靠，安装轻便，从而进一步克服了现有技术中没有用于测量连接器从开始使用到第一次出现质量问题的无故障时长，导致连接器使用时稳定性低的问题。[0120] 至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。[0121] 以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明；对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

专利地区：浙江

专利申请日期：2024-09-11

专利公开日期：2024-11-29

专利公告号：CN118795392B