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开云优惠体育网页版入口:相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法

更新时间:2026-03-23
相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法 专利申请类型:发明专利;
地区:辽宁-沈阳;
源自:沈阳高价值专利检索信息库;

专利名称:相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法

专利类型:发明专利

专利申请号:CN202111583645.9

专利申请(专利权)人:国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,国家电网有限公司,中煤科工集团沈阳研究院有限公司
权利人地址:辽宁省沈阳市和平区四平街39-7号

专利发明(设计)人:郎福成,张红奎,张军如,李燕,李桐喆,杨璐羽,贾玥,张年维,金元元,孙文静,邰晓雪,田博文

专利摘要:本发明属于本发明属于低压电气设备寿命预测技术领域,尤其涉及一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法。本发明系统是在PIC的一端连接显示单元、控制面板、供电电源、复位电路、时钟电路、晶振电路及数据存储单元;在PIC的另一端通过驱动模块与低压电气设备相连接;在PIC的另一端还通过信号处理电路、电流传感器和电压传感器与低压电气设备相连接;在PIC的另一端还通过模数转换单元、行程传感器与低压电气设备相连接;在PIC的另一端还通过通讯电路连接工业计算机。本发明提出了一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法,能够提高低压电气设备安全性和可靠性,为智能化电器技术发展奠定基础的发明目的。

主权利要求:
1.相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法,其特征是:包括以下步骤:
步骤1.首先采集电流数据,并进行判断分断类型,包括:低压电气设备分断电流次数越多,触头磨损量越大;低压电气设备分断电流分为额定电流、过载电流和短路电流,分断不同电流对触头的影响差异较大;分断额定电流属于正常开断,寿命预测时次数统计与实际分断次数一致;过载电流对触头的损害远远大于额定电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数;短路电流对触头的损害远远大于过载电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数;低压电气设备运行过程对触头损耗量,如下式所示:Q=M+KEN+PFW(1)式中,Q为低压电气设备触头损耗量,M为低压电气设备分断额定电流次数,N为低压电气设备分断过载电流次数,K为低压电气设备过载电流加权系数,E为低压电气设备过载电流与额定电流比值,W为低压电气设备分断短路电流次数,P为低压电气设备过载电流加权系数,F为低压电气设备短路电流与额定电流比值;低压电气设备过载电流与额定电流比值E计算方法为:式中,Ig为低压电气设备过载电流,Ie为低压电气设备额定电流;
低压电气设备短路电流与额定电流比值F计算方法为:
式中,Id为低压电气设备短路电流;
步骤2.利用分断类型与允许磨损总量特征值进行比较,包括:根据公式(1)、公式(2)和公式(3)得到低 压电 气设备运行过程触头 实际 损耗量,如下式所 示:相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统中PIC采集分断电流和行程数据,根据分断电流类型、行程和额定分断电流对低压电气设备运行过程触头实际损耗量Q进行计算,通过显示单元(1)显示触头磨损量数据;同时调用低压电气设备的触头额定磨损量Qz,将触头额定磨损量Qz和PIC计算的触头实际磨损量Q进行比较;
步骤3.根据比较结果,判断警报类型,并提出预警和报警,包括:如果Q≥0.9Qz,则认为低压电气设备将发生故障,通过显示单元和工业计算机进行报警;低压电气设备每次分断操作过程中都采集实际行程数据,并将实际行程数据与数据库中低压电气设备额定行程数据进行比较,如实际行程数据小于额定行程数据的50%,则认为低压电气设备分断电流失败,相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统停止工作,并在显示单元和工业计算机上进行报警;低压电气设备额定行程数据是在系统运行采集行程数据Li:L1,L2,……,Ln,然后进行计算和数据处理得到,计算过程如下:式中, 为低压电气设备行程平均值,Ln为低压电气设备第n个行程数据;
式中,ΔL为第i个低压电气设备行程数据与低压电气设备行程平均值差值的绝对值和低压电气设备行程平均值之间的比例;不同低压电气设备行程差距较大,如果寿命评估ΔL大于0.2,则认为对应的低压电气设备行程数据Li为异常数据,在低压电气设备额定行程数据库建立时舍弃数据Li。
2.相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,包括显示单元和工业计算机,其特征是:
用于实现权利要求1所述的方法,所述显示单元(1)的一端与PIC(7)相连接,控制面板(2)的一端与PIC(7)相连接,供电电源(3)、复位电路(4)、时钟电路(5)、晶振电路(6)的一端分别与PIC(7)相连接;PIC(7)的一端与驱动模块(8)相连接,驱动模块(8)的另一端与低压电气设备控制信号相连接;电流传感器(11)和电压传感器(14)的一端分别与低压电气设备(9)相连接;电流互感器(11)和电压互感器(14)的另一端分别与信号处理电路(10)的一端相连接,信号处理电路(10)的另一端与PIC(7)相连接;行程传感器(13)的一端与低压电气设备(9)相连接,行程传感器(13)的另一端与模数转换单元(12)相连接,模数转换单元(12)的另一端与PIC(7)相连接;工业计算机(16)的一端经过通讯电路(15)与PIC(7)相连接;数据存储单元(17)的一端与PIC(7)相连接。
3.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述显示单元(1)的信号输入端与PIC(7)的显示信号输出端相连接,控制面板(2)的信号输出端与PIC(7)控制信号输入端相连接,供电电源(3)、复位电路(4)、时钟电路(5)、晶振电路(6)的信号输出端分别与PIC(7)的电源接线端子、复位信号接线端子、时钟信号输入端子、晶振信号输入端子相连接。
4.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述PIC(7)的控制信号输出端与驱动模块(8)的控制信号输入端相连接,驱动模块(8)的控制信号输出端与低压电气设备控制信号输入端相连接。
5.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述控制面板(2)的操作按钮电路包括电源VCC1、电源VCC2、光耦TLP521、接地端子GND1、接地端子GND2、接地端子GND3、接地端子GND4、二极管D1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电感L1、反向二极管TV1、按钮S1、PIC(7)组成;
所述PIC(7)的信号输入端与光耦TLP521接线端子二、电阻R1的一端相连接,电阻R1的另一端与电源VCC1相连接,光耦TLP521接线端子一与接地端子GND1相连接,光耦TLP521接线端子三与二极管D1的一端、电容C1的一端、电阻R2的一端相连接,光耦TLP521接线端子四、二极管D1的另一端、电容C1的另一端与接地端子GND2相连接,电阻R2的另一端与电容C2的一端、电感L1的一端相连接,电容C2的另一端与接地端子GND3相连接,电感L1的另一端与反向二极管TV1的一端、按钮S1的一端相连接,反向二极管TV1的另一端与接地端子GND4相连接,按钮S1的另一端与电源VCC2相连接。
6.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述电流传感器(11)的信号测试端与低压电气设备(9)的电流测试部位相连接,电压传感器(14)的信号测试端与低压电气设备(9)的电压测试部位相连接;电流互感器(11)、电压互感器(14)的信号输出端与信号处理电路(10)的信号输入端相连接,信号处理电路(10)的信号输出端与PIC(7)的电压、电流信号输入端相连接。
7.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述行程传感器(13)的信号测试端与低压电气设备(9)的行程测试部位相连接,行程传感器(13)的信号输出端与模数转换单元(12)的信号输入端相连接,模数转换单元(12)的信号输出端与PIC(7)的行程输入端相连接。
8.根据权利要求2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,其特征是:所述工业计算机(16)的通讯信号输出端经过通讯电路(15)与PIC(7)的通讯信号输入端相连接;所述数据存储单元(17)的信号输入端与PIC(7)的存储信号输出端相连接。
9.一种计算机存储介质,其特征是:所述计算机存储介质上存有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法的步骤。 说明书 : 相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法技术领域[0001] 本发明属于低压电气设备寿命预测技术领域,尤其涉及一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法。背景技术[0002] 低压电气设备主要包括真空接触器、塑壳断路器、隔离开关、低压真空断路器等及上述设备主要部件构成的产品,属于用电设备中控制、保护和执行设备。[0003] 低压电气设备采用定期维修和故障检修的模式,在一定程度上提升了低压电气设备的安全性和使用寿命。[0004] 故障诊断技术是利用低压电气设备参数检测和智能算法判断设备运行状态,在将发生故障或故障时进行报警,有利于科学安排检修和提高设备的使用率。现有低压电气设备故障诊断大部分采用:酆险锒戏,评判模型因素权重凭经验准确度的不到保障,不能有效对低压电气设备的状态进行诊断。发明内容[0005] 针对上述现有技术中存在的不足之处,本发明提供了一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法。其目的是为了实现提高低压电气设备安全性和可靠性,为智能化电器技术发展奠定基础的发明目的。[0006] 本发明为实现上述目的所采用的技术方案是:[0007] 相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统,包括显示单元和工业计算机,所述显示单元的一端与PIC相连接,控制面板的一端与PIC相连接,供电电源、复位电路、时钟电路、晶振电路的一端分别与PIC相连接;PIC的一端与驱动模块相连接,驱动模块的另一端与低压电气设备控制信号相连接;电流传感器和电压传感器的一端分别与低压电气设备相连接;电流互感器和电压互感器的另一端分别与信号处理电路的一端相连接,信号处理电路的另一端与PIC相连接;行程传感器的一端与低压电气设备相连接,行程传感器的另一端与模数转换单元相连接,模数转换单元的另一端与PIC相连接;工业计算机的一端经过通讯电路与PIC相连接;数据存储单元的一端与PIC相连接。[0008] 更进一步的,所述显示单元的信号输入端与PIC的显示信号输出端相连接,控制面板的信号输出端与PIC控制信号输入端相连接,供电电源、复位电路、时钟电路、晶振电路的信号输出端分别与PIC的电源接线端子、复位信号接线端子、时钟信号输入端子、晶振信号输入端子相连接。[0009] 更进一步的,所述PIC的控制信号输出端与驱动模块的控制信号输入端相连接,驱动模块的控制信号输出端与低压电气设备控制信号输入端相连接。[0010] 更进一步的,所述控制面板的操作按钮电路包括电源VCC1、电源VCC2、光耦TLP521、接地端子GND1、接地端子GND2、接地端子GND3、接地端子GND4、二极管D1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电感L1、反向二极管TV1、按钮S1、PIC组成;[0011] 所述PIC的信号输入端与光耦TLP521接线端子二、电阻R1的一端相连接,电阻R1的另一端与电源VCC1相连接,光耦TLP521接线端子一与接地端子GND1相连接,光耦TLP521接线端子三与二极管D1的一端、电容C1的一端、电阻R2的一端相连接,光耦TLP521接线端子四、二极管D1的另一端、电容C1的另一端与接地端子GND2相连接,电阻R2的另一端与电容C2的一端、电感L1的一端相连接,电容C2的另一端与接地端子GND3相连接,电感L1的另一端与反向二极管TV1的一端、按钮S1的一端相连接,反向二极管TV1的另一端与接地端子GND4相连接,按钮S1的另一端与电源VCC2相连接。[0012] 更进一步的,所述电流传感器的信号测试端与低压电气设备的电流测试部位相连接,电压传感器的信号测试端与低压电气设备的电压测试部位相连接;电流互感器、电压互感器的信号输出端与信号处理电路的信号输入端相连接,信号处理电路的信号输出端与PIC的电压、电流信号输入端相连接。[0013] 更进一步的,所述行程传感器的信号测试端与低压电气设备的行程测试部位相连接,行程传感器的信号输出端与模数转换单元的信号输入端相连接,模数转换单元的信号输出端与PIC的行程输入端相连接。[0014] 更进一步的,所述工业计算机的通讯信号输出端经过通讯电路与PIC的通讯信号输入端相连接;所述数据存储单元的信号输入端与PIC的存储信号输出端相连接。[0015] 相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法,包括以下步骤:[0016] 步骤1.首先采集电流数据,并进行判断分断类型;[0017] 步骤2.利用分断类型与允许磨损总量特征值进行比较;[0018] 步骤3.根据比较结果,判断警报类型,并提出预警和报警。[0019] 更进一步的,步骤1所述首先采集电流数据,并进行判断分断类型,包括:[0020] 低压电气设备分断电流次数越多,触头磨损量越大;低压电气设备分断电流分为额定电流、过载电流和短路电流,分断不同电流对触头的影响差异较大;分断额定电流属于正常开断,寿命预测时次数统计与实际分断次数一致;过载电流对触头的损害远远大于额定电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数;短路电流对触头的损害远远大于过载电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数;[0021] 低压电气设备运行过程对触头损耗量,如下式所示:Q=M+KEN+PFW(1)[0022] 式中,Q为低压电气设备触头损耗量,M为低压电气设备分断额定电流次数,N为低压电气设备分断过载电流次数,K为低压电气设备过载电流加权系数,E为低压电气设备过载电流与额定电流比值,W为低压电气设备分断短路电流次数,P为低压电气设备过载电流加权系数,F为低压电气设备短路电流与额定电流比值;[0023] 低 压 电 气 设 备 过 载 电 流 与 额 定 电 流 比 值 E 计 算 方 法 为 :[0024] 式中,Ig为低压电气设备过载电流,Ie为低压电气设备额定电流;[0025] 低 压 电 气 设 备 短 路 电 流 与 额 定 电 流 比 值 F 计 算 方 法 为 :[0026] 式中,Id为低压电气设备短路电流;[0027] 步骤2中所述利用分断类型与允许磨损总量特征值进行比较,包括:[0028] 根据公式(1)、公式(2)和公式(3)得到低压电气设备运行过程触头实际损耗量,如下式所示:[0029][0030] 相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统中PIC采集分断电流和行程数据,根据分断电流类型、行程和额定分断电流对低压电气设备运行过程触头实际损耗量Q进行计算,通过显示单元1显示触头磨损量数据;同时调用低压电气设备的触头额定磨损量Qz,将触头额定磨损量Qz和PIC计算的触头实际磨损量Q进行比较;[0031] 步骤3所述根据比较结果,判断警报类型,并提出预警和报警,包括:[0032] 如果Q≥0.9Qz,则认为低压电气设备将发生故障,通过显示单元和工业计算机进行报警;[0033] 低压电气设备每次分断操作过程中都采集实际行程数据,并将实际行程数据与数据库中低压电气设备额定行程数据进行比较,如果实际行程数据小于额定行程数据的50%,则认为低压电气设备分断电流失败,相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统停止工作,并在显示单元和工业计算机上进行报警;[0034] 所述低压电气设备额定行程数据是在系统运行采集行程数据Li(L1,L2,……,Ln)然后进行计算和数据处理得到,计算过程如下:[0035][0036] 式中, 为低压电气设备行程平均值,Ln为低压电气设备第n个行程数据;[0037][0038] 式中,ΔL为第i个低压电气设备行程数据与低压电气设备行程平均值差值的绝对值和低压电气设备行程平均值之间的比例;[0039] 不同低压电气设备行程差距较大,如果寿命评估ΔL大于0.2,则认为对应的低压电气设备行程数据Li为异常数据,在低压电气设备额定行程数据库建立时舍弃数据Li。[0040] 一种计算机存储介质,所述计算机存储介质上存有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法的步骤。[0041] 本发明具有以下有益效果及优点:[0042] 本发明提出了一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法,系统结构简单、稳定性好,能够提高低压电气设备安全性和可靠性,为智能化电器技术发展奠定基础的发明目的。附图说明[0043] 本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:[0044] 图1是本发明相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统结构简图;[0045] 图2是本发明控制面板操作按钮电路图;[0046] 图3是本发明低压电气设备电寿命曲线图;[0047] 图4是本发明相对电磨损法低压电气设备寿命预测流程图。[0048] 图中:[0049] 显示单元1、控制面板2、供电电源3、复位电路4、时钟电路5、晶振电路6、PIC7、驱动模块8、低压电气设备9、信号处理电路10、电流传感器11、模数转换单元12、行程传感器13、电压传感器14、通讯电路15、工业计算机16、数据存储单元17。具体实施方式[0050] 为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面将结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。[0051] 在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。[0052] 下面参照图1?图4描述本发明一些实施例的技术方案。[0053] 实施例1[0054] 本发明提供了一个实施例,是一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法,是利用相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统来实现,如图1所示,图1是本发明相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统结构简图。[0055] 本发明所述相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统包括:显示单元1、控制面板2、供电电源3、复位电路4、时钟电路5、晶振电路6、PIC7、驱动模块8、低压电气设备9、信号处理电路10、电流传感器11、模数转换单元12、行程传感器13、电压传感器14、通讯电路15、工业计算机16、数据存储单元17组成。[0056] 其中,所述显示单元1的信号输入端与PIC7的显示信号输出端相连接,控制面板2的信号输出端与PIC7控制信号输入端相连接,供电电源3、复位电路4、时钟电路5、晶振电路6的信号输出端分别与PIC7的电源接线端子、复位信号接线端子、时钟信号输入端子、晶振信号输入端子相连接。[0057] 如图2所示,图2是本发明控制面板操作按钮电路图。本发明所述控制面板2的操作按钮电路主要由电源VCC1、电源VCC2、光耦TLP521、接地端子GND1、接地端子GND2、接地端子GND3、接地端子GND4、二极管D1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电感L1、反向二极管TV1、按钮S1、PIC7组成。[0058] 其中,所述PIC的信号输入端与光耦TLP521接线端子二、电阻R1的一端相连接,电阻R1的另一端与电源VCC1相连接,光耦TLP521接线端子一与接地端子GND1相连接,光耦TLP521接线端子三与二极管D1的一端、电容C1的一端、电阻R2的一端相连接,光耦TLP521接线端子四、二极管D1的另一端、电容C1的另一端与接地端子GND2相连接,电阻R2的另一端与电容C2的一端、电感L1的一端相连接,电容C2的另一端与接地端子GND3相连接,电感L1的另一端与反向二极管TV1的一端、按钮S1的一端相连接,反向二极管TV1的另一端与接地端子GND4相连接,按钮S1的另一端与电源VCC2相连接。[0059] 所述PIC7的控制信号输出端与驱动模块8的控制信号输入端相连接,驱动模块8的控制信号输出端与低压电气设备控制信号输入端相连接。[0060] 所述电流传感器11的信号测试端与低压电气设备9的电流测试部位相连接,电压传感器14的信号测试端与低压电气设备9的电压测试部位相连接;电流互感器11、电压互感器14的信号输出端与信号处理电路10的信号输入端相连接,信号处理电路10的信号输出端与PIC7的电压、电流信号输入端相连接。[0061] 所述行程传感器13的信号测试端与低压电气设备9的行程测试部位相连接,行程传感器13的信号输出端与模数转换单元12的信号输入端相连接,模数转换单元12的信号输出端与PIC7的行程输入端相连接。[0062] 所述工业计算机16的通讯信号输出端经过通讯电路15与PIC7的通讯信号输入端相连接。[0063] 所述数据存储单元17的信号输入端与PIC7的存储信号输出端相连接。[0064] 实施例2[0065] 本发明又提供了一个实施例,是一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法,具体实施时,如图3?图4所示,图3是本发明低压电气设备电寿命曲线图,图4是本发明相对电磨损法低压电气设备寿命预测流程图。[0066] 本发明相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法,本发明预测方法采用触头磨损量和电寿命成反比的关系,即触头磨损越大,电寿命越短。[0067] 具体包括以下步骤:[0068] 步骤1.首先采集电流数据,并进行判断分断类型;[0069] 低压电气设备分断电流次数越多,触头磨损量越大。低压电气设备分断电流分为额定电流、过载电流和短路电流,分断不同电流对触头的影响差异较大。分断额定电流属于正常开断,寿命预测时次数统计与实际分断次数一致;过载电流对触头的损害远远大于额定电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数,通常取3;短路电流对触头的损害远远大于过载电流,开断过载电流根据实际开断电流值与额定电流的比例再加上一个加权系数,通常取5;[0070] 低压电气设备运行过程对触头损耗量,如下式所示:[0071] Q=M+KEN+PFW(1)[0072] 式中,Q为低压电气设备触头损耗量,M为低压电气设备分断额定电流次数,N为低压电气设备分断过载电流次数,K为低压电气设备过载电流加权系数,K通常取3,E为低压电气设备过载电流与额定电流比值,W为低压电气设备分断短路电流次数,P为低压电气设备过载电流加权系数,P通常取5,F为低压电气设备短路电流与额定电流比值。[0073] 低压电气设备过载电流与额定电流比值E计算方法为:[0074][0075] 式中,Ig为低压电气设备过载电流,Ie为低压电气设备额定电流。[0076] 低压电气设备短路电流与额定电流比值F计算方法为:[0077][0078] 式中,Id为低压电气设备短路电流。[0079] 步骤2.利用分断类型与允许磨损总量特征值进行比较;[0080] 根据公式(1)、公式(2)和公式(3)得到低压电气设备运行过程触头实际损耗量,如下式所示:[0081][0082] 相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统中PIC7采集分断电流和行程数据,根据分断电流类型、行程和额定分断电流对低压电气设备运行过程触头实际损耗量Q进行计算,通过显示单元1显示触头磨损量数据。同时调用低压电气设备的触头额定磨损量Qz,将触头额定磨损量Qz和PIC7计算的触头实际磨损量Q进行比较。[0083] 步骤3.根据比较结果,判断警报类型,并提出预警和报警。[0084] 如果Q≥0.9Qz,则认为低压电气设备将发生故障,通过显示单元1和工业计算机16进行报警。[0085] 低压电气设备每次分断操作过程中都采集实际行程数据,并将实际行程数据与数据库中低压电气设备额定行程数据进行比较,如果实际行程数据小于额定行程数据的50%,则认为低压电气设备分断电流失败,相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统停止工作,并在显示单元1和工业计算机16上进行报警。[0086] 进一步的,步骤3中所述数据库中低压电气设备额定行程数据是相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统的核心,直接关系到系统的可靠性和稳定性。低压电气设备额定行程数据是在系统运行采集行程数据Li(L1,L2,……,Ln)然后进行计算和数据处理得到,计算过程如下:[0087][0088] 式中, 为低压电气设备行程平均值,Ln为低压电气设备第n个行程数据。[0089][0090] 式中,ΔL为第i个低压电气设备行程数据与低压电气设备行程平均值差值的绝对值和低压电气设备行程平均值之间的比例。[0091] 不同低压电气设备行程差距较大,通常在寿命评估是如果ΔL大于0.2,则认为对应的低压电气设备行程数据Li为异常数据,在低压电气设备额定行程数据库建立时舍弃数据Li。[0092] 实施例3[0093] 基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种计算机存储介质,所述计算机存储介质上存有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现实施例1或2所述的相对电磨损法低压电气设备寿命预测方法的步骤。[0094] 在本发明中,术语“连接”、“固定”应做广义理解,例如,“连接”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。[0095] 本发明的描述中,需要理解的是,指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或单元必须具有特定的方向、以特定的方位构造和操作,因此,不能理解为对本发明的限制。[0096] 在本说明书的描述中,术语“一个实施例”、“一些实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且,描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。[0097] 本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD?ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。[0098] 本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。[0099] 这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。[0100] 这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。[0101] 最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制,尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明,所属领域的普通技术人员应当理解:依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换,而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换,其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。

专利地区:辽宁

专利申请日期:2021-12-22

专利公开日期:2024-11-29

专利公告号:CN114384360B


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