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专利名称：一种瓦楞纸的生产工艺

专利类型：发明专利

专利申请号：CN202410060981.2

专利申请（专利权）人：江西福山众品鑫包装有限公司
权利人地址：江西省宜春市高安市高新技术产业园龙工北大道

专利发明（设计）人：黄庆丰,黄文明,胡海辉

专利摘要：本发明公开了一种瓦楞纸的生产工艺，将芯纸通过瓦楞辊加工出UV波形后，对芯纸通过瓦楞辊加工后的芯纸特征数据进行获。⒒谛局教卣魇莸玫叫局教卣髦，通过对芯纸特征值进行处理，完成对瓦楞纸的加工设备及芯纸状态的识别，即通过每个芯纸子单元的槽宽获取芯纸槽宽行为值，通过每个芯纸子单元的槽深获取芯纸槽深行为值，通过每个芯纸子单元的整合值获取芯纸平整行为值，即通过对芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值进行处理获取芯纸整体的加工质量，从而实现从芯纸的沟槽的加工尺寸、沟槽的加工深度、沟槽的加工表面平整度多个方面对芯纸状态进行表征，使对芯纸加工质量的识别更加精准，有效降低瓦楞纸加工的次品率。

主权利要求：
1.一种瓦楞纸的生产工艺，其特征在于，包括以下步骤:步骤一：将瓦楞纸芯纸、面纸、底纸浸于浸渍液中浸渍；
步骤二：取出烘干后，芯纸、面纸、底纸表面均匀涂布改性聚氨酯涂料，105℃固化1h，备用；
步骤三：将芯纸通过瓦楞辊加工出UV波形后，在表面涂布改性硅酸盐胶黏剂；
对芯纸通过瓦楞辊加工后的芯纸特征数据进行获。⒒谛局教卣魇莸玫叫局教卣髦，通过对芯纸特征值进行处理，完成对瓦楞纸的加工设备及芯纸状态的识别；
步骤四：将芯纸粘附于面纸与底纸之间，室温放置2h，升温至110℃干燥12h，冷却后得到多层瓦楞纸板；
步骤三中，芯纸特征数据包括芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值；
将芯纸槽宽行为值标记为Ei；
将芯纸槽深行为值标记为Di；
将芯纸平整行为值标记为Yi；
即通过公式 计算得到芯纸特征值EDY，其中，a1、a2和a3为预设比例系数；
芯纸槽宽行为值的获取过程为：
将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，即每一个V型底为一个芯纸子单元；
在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽宽测量点，获取每个槽宽测量点所得到的槽宽值；
将芯纸子单元上的所有的槽宽值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽宽值；
将所有芯纸子单元的槽宽值按照标准差计算公式得到芯纸槽宽行为值；
芯纸槽深行为值的获取过程为：
在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽底测量点，获取每个槽底测量点所得到的槽深值；
将芯纸子单元上的所有的槽深值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽深值；
将所有芯纸子单元的槽深值按照标准差计算公式得到芯纸槽深行为值；
芯纸平整行为值的获取过程为：
将芯纸子单元沿沟槽方向均分为若干个微型子单元；
芯纸子单元按结构分为第一侧面、V型底和第二侧面；
通过水平仪测量法获取微型子单元内第一侧面、V型底和第二侧面的测量值，得到测量值组；
基于测量值组获取芯纸子单元第一侧面方差值、芯纸子单元第二侧面方差值、芯纸子单元V型底方差值；
将芯纸子单元第一侧面方差值、芯纸子单元第二侧面方差值和芯纸子单元V型底方差值进行加权处理，得到芯纸子单元的整合值；
将所有芯纸子单元的整合值求和取均值，得到芯纸平整行为值；
预设芯纸特征值阈值为edy，将芯纸特征值EDY与芯纸特征值阈值edy进行比较处理；
当芯纸特征值EDY＞芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工正常，生成芯纸加工正常信号；
当芯纸特征值EDY＜芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工异常，生成设备加工验证信号；
基于芯纸加工正常信号；
以间隔式的采集方式，采集n次瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值；
建立X?Y二维平面坐标系，将采集次数作为X轴，将芯纸特征值作为Y轴；
对采集n次在X轴上按时间先后顺序进行设置，再将n次的瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值作为Y值在坐标系内进行描点，再将坐标系内的点按时间顺序进行平滑连线，得到n次芯纸特征值趋势图；
若n次芯纸特征值趋势图整体为倾斜向上的线型或倾斜向下的线型时，将最后一次采集的芯纸特征值与首次采集芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值变化率；
再将芯纸特征值阈值与最后一次采集的芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值容量；
将芯纸特征值容量与芯纸特征值变化率进行比值计算，得到芯纸加工次数余量；
若n次芯纸特征值趋势图整体为波动的线型时，则表示在瓦楞纸在采集的n次加工次数内，加工设备处于动态恒定状态。 说明书 : 一种瓦楞纸的生产工艺技术领域[0001] 本发明涉及包装材料技术领域，具体涉及一种瓦楞纸的生产工艺。背景技术[0002] 瓦楞纸板是由面纸、底纸和通过瓦楞棍加工出波形的芯纸粘合而成的板状物，具有成本低、质量轻、加工易、强度大、印刷适应性优良、储存搬运方便等优点，应用广泛。[0003] 如专利申请号202211096914.3公开了一种多层瓦楞纸的生产工艺，本发明的生产工艺包括如下步骤：步骤S1、制备添加改性纳米二氧化钛的浸渍液；步骤S2、制备添加改性纳米二氧化锆的改性聚氨酯涂料；步骤S3、制备添加聚乙烯醇的改性硅酸盐胶黏剂；步骤S4、将瓦楞纸芯纸、面纸、底纸浸于浸渍液中，烘干后涂布改性聚氨酯涂料，高温固化，将芯纸通过瓦楞辊加工出UV波形后，在表面涂布改性硅酸盐胶黏剂，粘附于所述面纸与底纸之间，升温粘结、冷却后得到多层瓦楞纸板。[0004] 由上述方案可知，现有技术中芯纸层在瓦楞纸的加工过程中起着十分重要的作用，一旦芯纸层出现加工质量差时，则会导致瓦楞纸整体质量差，瓦楞纸加工次品率高。[0005] 现有技术中，缺少对瓦楞纸芯纸加工质量的识别，不能有效保证瓦楞纸加工质量。发明内容[0006] 本发明的目的在于提供一种瓦楞纸的生产工艺，通过将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，通过每个芯纸子单元的槽宽获取芯纸槽宽行为值，通过每个芯纸子单元的槽深获取芯纸槽深行为值，通过每个芯纸子单元的整合值获取芯纸平整行为值，即通过对芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值进行处理获取芯纸整体的加工质量，从而实现从芯纸的沟槽的加工尺寸、沟槽的加工深度、沟槽的加工表面平整度多个方面对芯纸状态进行表征，使对芯纸加工质量的识别更加精准。[0007] 本发明所解决的技术问题为：[0008] 本发明的目的可以通过以下技术方案实现：[0009] 一种瓦楞纸的生产工艺，包括以下步骤:[0010] 步骤一：将瓦楞纸芯纸、面纸、底纸浸于浸渍液中浸渍；[0011] 步骤二：取出烘干后，芯纸、面纸、底纸表面均匀涂布改性聚氨酯涂料，105℃固化1h，备用；[0012] 步骤三：将芯纸通过瓦楞辊加工出UV波形后，在表面涂布改性硅酸盐胶黏剂；[0013] 对芯纸通过瓦楞辊加工后的芯纸特征数据进行获。⒒谛局教卣魇莸玫叫局教卣髦，通过对芯纸特征值进行处理，完成对瓦楞纸的加工设备及芯纸状态的识别；[0014] 步骤四：将芯纸粘附于面纸与底纸之间，室温放置2h，升温至110°C干燥12h，冷却后得到多层瓦楞纸板。[0015] 作为本发明进一步的方案：芯纸特征数据包括芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值；[0016] 将芯纸槽宽行为值标记为Ei；[0017] 将芯纸槽深行为值标记为Di；[0018] 将芯纸平整行为值标记为Yi；[0019] 即通过公式 计算得到芯纸特征值EDY，其中，a1、a2和a3为预设比例系数。[0020] 作为本发明进一步的方案：芯纸槽宽行为值的获取过程为：[0021] 将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，即每一个V型底为一个芯纸子单元；[0022] 在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽宽测量点，获取每个槽宽测量点所得到的槽宽值；[0023] 将芯纸子单元上的所有的槽宽值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽宽值；[0024] 将所有芯纸子单元的槽宽值按照标准差计算公式得到芯纸槽宽行为值。[0025] 作为本发明进一步的方案：芯纸槽深行为值的获取过程为：[0026] 在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽底测量点，获取每个槽底测量点所得到的槽深值；[0027] 将芯纸子单元上的所有的槽深值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽深值；[0028] 将所有芯纸子单元的槽深值按照标准差计算公式得到芯纸槽深行为值。[0029] 作为本发明进一步的方案：芯纸平整行为值的获取过程为：[0030] 将芯纸子单元沿沟槽方向均分为若干个微型子单元；[0031] 芯纸子单元按结构分为第一侧面、V型底和第二侧面；[0032] 通过水平仪测量法获取微型子单元内第一侧面、V型底和第二侧面的测量值，得到测量值组；[0033] 基于测量值组获取芯纸子单元第一侧面方差值、芯纸子单元第二侧面方差值、芯纸子单元V型底方差值。[0034] 作为本发明进一步的方案：将芯纸子单元第一侧面方差值、芯纸子单元第二侧面方差值和芯纸子单元V型底方差值进行加权处理，得到芯纸子单元的整合值；[0035] 将所有芯纸子单元的整合值求和取均值，得到芯纸平整行为值。[0036] 作为本发明进一步的方案：预设芯纸特征值阈值为edy，将芯纸特征值EDY与芯纸特征值阈值edy进行比较处理；[0037] 当芯纸特征值EDY＞芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工正常，生成芯纸加工正常信号；[0038] 当芯纸特征值EDY＜芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工异常，生成设备加工验证信号。[0039] 作为本发明进一步的方案：基于芯纸加工正常信号；[0040] 以间隔式的采集方式，采集n次瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值；[0041] 建立X?Y二维平面坐标系，将采集次数作为X轴，将芯纸特征值作为Y轴；[0042] 对采集n次在X轴上按时间先后顺序进行设置，再将n次的瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值作为Y值在坐标系内进行描点，再将坐标系内的点按时间顺序进行平滑连线，得到n次芯纸特征值趋势图。[0043] 作为本发明进一步的方案：若n次芯纸特征值趋势图整体为倾斜向上的线型或倾斜向下的线型时，将最后一次采集的芯纸特征值与首次采集芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值变化率；[0044] 再将芯纸特征值阈值与最后一次采集的芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值容量；[0045] 将芯纸特征值容量与芯纸特征值变化率进行比值计算，得到芯纸加工次数余量。[0046] 作为本发明进一步的方案：若n次芯纸特征值趋势图整体为波动的线型时，则表示在瓦楞纸在采集的n次加工次数内，加工设备处于动态恒定状态。[0047] 本发明的有益效果：[0048] (1)本发明通过将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，通过每个芯纸子单元的槽宽获取芯纸槽宽行为值，通过每个芯纸子单元的槽深获取芯纸槽深行为值，通过每个芯纸子单元的整合值获取芯纸平整行为值，即通过对芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值进行处理获取芯纸整体的加工质量，从而实现从芯纸的沟槽的加工尺寸、沟槽的加工深度、沟槽的加工表面平整度多个方面对芯纸状态进行表征，使对芯纸加工质量的识别更加精准，有效降低瓦楞纸加工的次品率；[0049] (2)本发明基于芯纸加工正常信号，以间隔式的采集方式对瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值进行采集，并建立平面坐标系对采集的芯纸特征值进行识别，即通过获取芯纸特征值容量和芯纸特征值变化率，将芯纸特征值容量与芯纸特征值变化率进行比值计算，得到芯纸加工次数余量，基于芯纸加工次数余量，对接近芯纸加工次数余量时候的芯纸对加工设备进行维护管理，有效防止芯纸加工报废，提高芯纸加工质量和良品率。附图说明[0050] 下面结合附图对本发明作进一步的说明。[0051] 图1是本发明一种瓦楞纸的生产工艺的流程图；[0052] 图2是本发明一种瓦楞纸的生产工艺中芯纸特征值与芯纸特征值阈值处理流程图。具体实施方式[0053] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。[0054] 请参阅图1?图2所示，本发明为一种瓦楞纸的生产工艺，包括以下步骤：[0055] 步骤一：将瓦楞纸芯纸、面纸、底纸浸于浸渍液中浸渍；[0056] 步骤二：取出烘干后，芯纸、面纸、底纸表面均匀涂布改性聚氨酯涂料，105℃固化1h，备用；[0057] 步骤三：将芯纸通过瓦楞辊加工出UV波形后，在表面涂布改性硅酸盐胶黏剂；[0058] 对芯纸通过瓦楞辊加工后的芯纸特征数据进行获。⒒谛局教卣魇莸玫叫局教卣髦，通过对芯纸特征值进行处理，完成对瓦楞纸的加工设备及芯纸状态的识别；[0059] 步骤四：将芯纸粘附于面纸与底纸之间，室温放置2h，升温至110°C干燥12h，冷却后得到多层瓦楞纸板。[0060] 步骤三中，芯纸特征数据包括芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值；[0061] 芯纸槽宽行为值的获取过程为：[0062] 将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，即每一个V型底为一个芯纸子单元；[0063] 在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽宽测量点，获取每个槽宽测量点所得到的槽宽值；[0064] 将芯纸子单元上的所有的槽宽值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽宽值；[0065] 将所有芯纸子单元的槽宽值进行整合，得到芯纸子单元的槽宽值组；[0066] 将芯纸子单元的槽宽值组按照标准差计算公式得到芯纸槽宽行为值；[0067] 本实施例中，槽宽测量点选取为三个，其中一个槽宽测量点设置在芯纸子单元沿沟槽方向的中间位置，另外两个槽宽测量点分别设置在芯纸子单元的两端；[0068] 芯纸槽深行为值的获取过程为：[0069] 在芯纸子单元沿V型底的沟槽方向选取多个槽底测量点，获取每个槽底测量点所得到的槽深值；[0070] 将芯纸子单元上的所有的槽深值进行相加并取均值，即得到芯纸子单元的槽深值；[0071] 将所有芯纸子单元的槽深值进行整合，得到芯纸子单元的槽深值组；[0072] 将芯纸子单元的槽深值组按照标准差计算公式得到芯纸槽深行为值；[0073] 本实施例中，槽深测量点选取为三个，其中一个槽深测量点设置在芯纸子单元沿沟槽方向的中间位置，另外两个槽深测量点分别设置在芯纸子单元的两端；[0074] 芯纸平整行为值的获取过程为：[0075] 将芯纸子单元沿沟槽方向均分为若干个微型子单元；[0076] 芯纸子单元按结构分为第一侧面、V型底和第二侧面；[0077] 通过水平仪测量法获取微型子单元内第一侧面、V型底和第二侧面的测量值；[0078] 并以第一个微型子单元为基准，通过水平仪测量法获取后续每个微型子单元内第一侧面的测量值、V型底的测量值和第二侧面的测量值；[0079] 将所有微型子单元的第一侧面的测量值按照方差计算公式，得到芯纸子单元第一侧面方差值；[0080] 将所有微型子单元的第二侧面的测量值按照方差计算公式，得到芯纸子单元第二侧面方差值；[0081] 将所有微型子单元的V型底的测量值按照方差计算公式，得到芯纸子单元V型底方差值；[0082] 将芯纸子单元第一侧面方差值、芯纸子单元第二侧面方差值和芯纸子单元V型底方差值进行加权处理，得到芯纸子单元的整合值；[0083] 在一个具体的实施例中，将芯纸子单元第一侧面方差值记为D1，将芯纸子单元第二侧面方差值记为D2，将芯纸子单元V型底方差值记为D3，将芯纸子单元第一侧面方差值D1的权重占比分为n1，将芯纸子单元第二侧面方差值D2的权重占比分为n2，将芯纸子单元V型底方差值的权重占比分为n3；[0084] 根据公式D＝D1*n1+D2*n2+D3*n3计算得到芯纸子单元的整合值D,其中，n1、n2、n3均大于0；且n1+n2+n3＝1；[0085] 再将所有芯纸子单元的整合值求和取均值，得到芯纸平整行为值；[0086] 将芯纸槽宽行为值标记为Ei；[0087] 将芯纸槽深行为值标记为Di；[0088] 将芯纸平整行为值标记为Yi；[0089] 即通过公式 计算得到芯纸特征值EDY，其中，a1、a2和a3为预设比例系数；[0090] 预设芯纸特征值阈值为edy，将芯纸特征值EDY与芯纸特征值阈值edy进行比较处理；[0091] 当芯纸特征值EDY＞芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工正常，生成芯纸加工正常信号；[0092] 当芯纸特征值EDY＜芯纸特征值阈值edy时，则说明芯纸瓦楞辊加工异常，生成设备加工验证信号。[0093] 基于设备加工验证信号[0094] 获取当前瓦楞纸后连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值，若连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值均小于芯纸特征值阈值，则得到瓦楞纸加工设备故障信号；[0095] 基于瓦楞纸加工设备故障信号，对芯纸加工设备进行检修；[0096] 若连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值存在小于或小于芯纸特征值阈值，则得到瓦楞纸验证信号；[0097] 基于瓦楞纸验证信号对步骤二或步骤一中得到芯纸的工艺进行检修。[0098] 基于芯纸加工正常信号[0099] 以间隔式的采集方式，即通过20n+1的方式获取第m个瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值，n为采集次数，n取0，1，2，3....n；[0100] 建立X?Y二维平面坐标系，将采集次数作为X轴，将芯纸特征值作为Y轴；[0101] 对采集n次在X轴上按时间先后顺序进行设置，再将n次的瓦楞纸加工过程中的芯纸特征值作为Y值在坐标系内进行描点，再将坐标系内的点按时间顺序进行平滑连线，得到n次芯纸特征值趋势图；[0102] 若n次芯纸特征值趋势图整体为倾斜向上的线型或倾斜向下的线型时，将最后一次采集的芯纸特征值与首次采集芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值变化率；[0103] 再将芯纸特征值阈值与最后一次采集的芯纸特征值进行差值计算，得到芯纸特征值容量；[0104] 将芯纸特征值容量与芯纸特征值变化率进行比值计算，得到芯纸加工次数余量；[0105] 基于芯纸加工次数余量，对接近芯纸加工次数余量时候的芯纸对加工设备进行维护管理，有效防止芯纸加工报废；[0106] 若n次芯纸特征值趋势图整体为波动的线型时，则表示在瓦楞纸在采集的n次加工次数内，加工设备处于动态恒定状态。[0107] 工作原理：通过将芯纸按照V型底划分为若干个芯纸子单元，通过每个芯纸子单元的槽宽获取芯纸槽宽行为值，通过每个芯纸子单元的槽深获取芯纸槽深行为值，通过每个芯纸子单元的整合值获取芯纸平整行为值，即通过对芯纸槽宽行为值、芯纸槽深行为值和芯纸平整行为值进行处理获取芯纸整体的加工质量，从而实现从芯纸的沟槽的加工尺寸、沟槽的加工深度、沟槽的加工表面平整度多个方面对芯纸状态进行表征，使对芯纸加工质量的识别更加精准，有效降低瓦楞纸加工的次品率；[0108] 同时，基于设备加工验证信号，对当前瓦楞纸后连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值进行识别，若连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值均小于芯纸特征值阈值，则得到瓦楞纸加工设备故障信号，提醒人员对芯纸加工设备进行检修[0109] 若连续多个瓦楞纸生产过程中芯纸的芯纸特征值存在小于或小于芯纸特征值阈值，则得到瓦楞纸验证信号，对步骤二或步骤一中得到芯纸进行识别。[0110] 以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。

专利地区：江西

专利申请日期：2024-01-16

专利公开日期：2024-11-19

专利公告号：CN118219613B